金剛石 氧化 鎵的問題,透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列問答集和整理懶人包

金剛石 氧化 鎵的問題,我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍,推薦張啟運寫的 (金千)焊手冊(第3版) 和趙正平的 寬禁帶半導體高頻及微波功率器件與電路都 可以從中找到所需的評價。

這兩本書分別來自機械工業 和國防工業所出版 。

國立中山大學 電機工程學系研究所 翁恆義、洪子聖所指導 蔡昀光的 電沉積法製備類鑽碳薄膜摻雜金屬之研究 (2010),提出金剛石 氧化 鎵關鍵因素是什麼,來自於光能隙、場發射、金屬摻雜、類鑽碳、電沉積。

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了金剛石 氧化 鎵,大家也想知道這些:

(金千)焊手冊(第3版)

為了解決金剛石 氧化 鎵的問題,作者張啟運 這樣論述:

是一本應用理論和實際工作經驗總結並重的工具書。全書以被 焊的母材為主線進行敘述:對鋁、銅、鋼、不銹鋼、高溫耐熱合金、難熔金屬、鈦、鋯、鈹、鎂、硬質合金、碳、金剛石、半導體、陶瓷、貴金屬、復合材料、特種材料的 焊,包括部分材料的軟 焊都進行了詳盡的介紹。參加本手冊每一章編寫的作者,都是在該領域中有多年工作經驗和科研成果的專家和技術人員,他們在第2版的基礎上,收集了大量的資料,進行了修訂或重寫,因此本書內容有一定的深度和廣度。書中還加強了應用理論的闡述,特別是在第1章緒論中將界面傳質理論通俗地引入 焊領域,並用以闡明和控制 焊過程,有較新的意義。 Contents第3

版前言Preface of the Third Edition第2版前言Preface of the Second Edition第1版前言Preface of the First Edition第1章 緒論Chapter 1 Introduction11.1 焊方法的原理和特點Principle and Characteristic of Brazing and Soldering Technique11.2熔態 料對固體母材的潤濕和鋪展Wetting and Spreading of Molten Filler Metal on a Solid Base Metal11.2.1固體金屬

的表面結構The Surface Structure of Solid Metal11.2.2熔態 料與固體母材的潤濕Wetting of Molten Filler on Solid Base Metal21.2.3熔態 料在 劑(第二液體)中與母材間界面張力的變化Change of Interfacial Tension between Molten Filler and Base Metal Immersed in a Fused Flux(a second liquid)41.2.4金屬母材表面的氧化膜及其去除機制Oxide Film on Base Metal and its

Removal Mechanism61.2.5熔態 料在固體母材上的鋪展Spreading of Molten Filler Metal on Solid Base Metal71.3熔態 料與固體母材的相互作用Reaction of Molten Filler with Solid Base Metal91.3.1熔態金屬與固體金屬的相互作用Reaction of Molten Metal with Solid Metal91.3.2 料的構成Construction of Filler Metals111.3.3熔態 料在母材間隙中的流動和 縫結構的不均勻性Flowing of

Molten Filler Metal in the Clearance of Base Metals as well as Inhomogeneity of the Formed Fillet141.3.4熔析與熔蝕Liquation and Erosion151.4 縫中熔態 料的凝固和 縫的金相組織Solidification of Molten Filler Metal in Clearance and the Micrographic Structure of the Fillet161.4.1共晶 縫組織The Structure of Eutectic Fillet161

.4.2晶間滲透組織The Fillet Structure with Intercrystalline Penetration161.4.3有化合物生成的 縫組織The Fillet Structure with Intermetallics171.5 劑、 料的選擇與搭配Selection and Matching of Fluxes with Filler Metals181.5.1 劑的選擇Selection of Fluxes181.5.2 料的選擇Selection of Filler Metals201.5.3 劑和 料的搭配Matching of Filler M

etal with Flux211.6 焊工藝Technology of Brazing and Soldering211.6.1接頭的形式與 料在 縫中的流動性Joint Types and Flowability of Molten Filler Metal in the Clearance211.6.2加熱方法Methods for Heating221.6.3工件的升溫速度和冷卻速度Heating and Cooling Rate of Workpieces in Brazing Process231.6.4 焊接頭的保溫處理和結構的彌散Annealing for Brazed

Joints and Structure Dispersion in the Fillet23參考文獻References25第2章 鋁及鋁合金的 焊Chapter 2 Brazing and Soldering of Aluminum and its Alloys272.1概述Introduction272.2鋁及鋁合金的編號Designations of Aluminum and its Alloys272.3鋁及鋁合金的理化性能Physical and Chemical Properties of Aluminum and its Alloys282.3.1鋁及鋁合金的物理性能Phy

sical Properties of Aluminum and its Alloys282.3.2鋁及鋁合金的化學性能Chemical Properties of Aluminum and its Alloys392.4鋁氧化膜的本質及其在加熱時的變化Nature of Oxide Film on Aluminum and its Change during Heating402.5鋁 劑Fluxes for Aluminum Brazing and Soldering412.5.1鋁的硬 劑Fluxes for Aluminum Brazing412.5.2鋁的軟 劑Fluxes f

or Aluminum Soldering532.6 焊時鋁氧化膜的脫除機制Removal Mechanism of Oxide Film on Aluminum during Brazing552.6.1鋁氧化膜與熔鹽 劑的相互作用Interaction of Oxide Film on Aluminum with Molten Salt Flux552.6.2真空環境下金屬蒸氣對鋁氧化膜的破壞Disruption of Oxide Film on Aluminum by Metal Vapor in Vacuum Environment572.7鋁 料Brazing Filler M

etals and Solders for Aluminum Alloys582.7.1Al-Si系 料(液相線溫度范圍570~630°C)Filler Metals of Al-Si Series(melting range 570~630°C)582.7.2Al-Si-Cu-Zn系 料(液相線溫度范圍500~577°C)Filler Metals of Al-Si-Cu-Zn Series(melting range 500~577°C)602.7.3Al-Cu-Ag-Zn系 料(液相線溫度范圍400~500°C)Filler Metals of Al-Cu-Ag-Zn Series

(melting range 400~500°C)612.7.4Al-Ge-Si系 料(液相線溫度范圍425~500°C)Filler Metals of Al-Ge-Si Series (melting range 425~500°C)612.7.5Zn-Al系 料(液相線溫度范圍382~400°C)Solders of Zn-Al Series(melting range 382~400°C)622.7.6Cd-Zn系 料(液相線溫度范圍265~350°C)Solders of Cd-Zn Series(melting range 265~350°C)642.7.7Sn-Zn系 料

(液相線溫度范圍198~260°C)Solders of Sn-Zn Series(melting range 198~260°C)642.7.8Sn-Pb系 料(液相線溫度范圍183~270°C)Solders of Sn-Pb Series(melting range 183~270°C)652.7.9Pb-Bi系 料(液相線溫度范圍124~200°C)Solders of Pb-Bi Series(melting range 124~200°C)662.8鋁的復合 焊材料Composite Fillers for Aluminum Brazing or Soldering662.8

.1鋁 焊板Aluminum Brazing Sheets662.8.2藥芯及藥皮鋁 焊絲Flux Cored and Flux Coated Filler Metals for Aluminum Brazing or Soldering672.8.3 料- 劑粉燒結的復合鋁 焊條(絲)Composites of Sintered Powder Filler Metals with Flux for Aluminum Brazing682.8.4鋁 料膏Aluminum Brazing Paste682.9鋁 焊中的一些特殊技藝Some Special Skills in Alu

minum Brazing and Soldering682.9.1用金屬鎵來作為界面活性劑進行鋁合金零件的精密擴散 焊Gallium Used as a Surfactant for Precise Soldering of Aluminum Alloy Parts682.9.2用鍺粉進行鋁合金的無 劑擴散 焊Fluxless Diffusion Brazing of Aluminum Alloys with Germanium Powders692.9.3鋁及鋁合金的表面軟 焊 塗改性Surface Modification of Aluminum Alloys by Solde

r-coating692.9.4鋁的自 軟 劑Self-soldering Flux Used for Soldering Aluminum Alloy Parts692.9.5鋁合金面上敷以Nocolok 劑- 粉-合成樹脂復合塗層A Composite Coating on Aluminum Alloys Made by Resinized Silicon and Nocolok Flux702.10鋁 焊的焊前准備和焊後處理Pre-brazing Preparations and Post-brazing Operations702.10.1接頭和夾具的設計Joint and

Jig Design702.10.2工件的預清洗Pre-cleaning of Workpieces to be Brazed722.10.3工件焊後的清洗Post-braze Cleaning of Workpieces742.10.4鍍覆Finishing75參考文獻References76第3章 銅和銅合金的 焊Chapter 3 Brazing and Soldering of Copper and Copper Alloys803.1概述Introduction803.2 焊性Brazability and Solderability843.2.1純銅Copper843.2.2普

通黃銅Brasses843.2.3錫黃銅Tin Brasses843.2.4鉛黃銅Leaded Brasses843.2.5錳黃銅Manganese Brasses843.2.6錫青銅Tin Bronzes843.2.7鋁青銅Aluminum Bronzes843.2.8鈹銅Beryllium Copper853.2.9 青銅Silicon Bronzes853.2.10鉻銅和鎘銅Chromium Copper and Cadmium Copper853.2.11白銅合金Copper-nickel Alloys853.3 焊接頭間隙Clearance of Brazed Joint853.

4軟 料Solders883.4.1鎵基 料Gallium Based Solders883.4.2鉍基 料Bismuth Based Solders893.4.3銦基 料Indium Based Solders893.4.4錫鉛 料Tin Lead Solders893.4.5無鉛 料Lead Free Solders943.4.6高溫錫 料High Temperature Tin Solders1063.4.7鉛基 料Lead Based Solders1073.4.8鎘基 料Cadmium Based Solders1073.4.9金基軟 料Gold Based So

lders1083.5硬 料Brazing Filler Metals1083.5.1對 料的基本要求Demands on Brazing Filler Metals1083.5.2 料的分類Classification of Brazing Filler Metals1083.5.3 料的型號與牌號Designations of Brazing Filler Metals1083.5.4銀 料Silver Filler Metals1093.5.5低銀 料Low Silver Based Filler Metals1233.5.6銅磷 料Copper-phosphorus Fi

ller Metals1303.6 劑Fluxes1353.6.1 劑的功能Functions of Brazing Fluxes1353.6.2對 劑的基本要求Demands on Brazing Fluxes1353.6.3 劑的分類及型號Classification and Type of Fluxes1363.7軟 劑Soldering Fluxes1363.7.1腐蝕性 劑Corrosive Fluxes1373.7.2弱腐蝕性 劑Medial Corrosive Fluxes1383.7.3無腐蝕性 劑Non-corrosive Fluxes1393.8硬 劑Br

azing Fluxes1403.9表面准備Surface Preparation1433.10接頭設計Joint Design1433.11 焊方法和工藝Methods and Technology of Soldering and Brazing1443.11.1銅Copper1443.11.2黃銅Brasses1443.11.3銅和黃銅軟 焊接頭強度The Strength of Copper and Brass Soldered Joints1443.11.4錳黃銅Manganese Brasses1473.11.5鈹銅Beryllium Copper1483.11.6鉻銅Chro

mium Copper1483.11.7鎘銅和錫青銅Cadmium Copper and Tin Bronzes1483.11.8 青銅Silicon Bronzes1483.11.9鋁青銅Aluminum Bronzes1483.11.10鋅白銅和錳白銅Copper-nickel Alloys149參考文獻References149第4章 電子工業中的軟 焊Chapter 4 Soldering in Electronic Industry1514.1電子制造與軟 焊Electronic Manufacture and Soldering1514.1.1軟 焊在電子工業中的地位The

Position of Soldering Technique in Electronic Industry1514.1.2電子制造與電子封裝Electronic Manufacture and Electronic Packaging1514.1.3電子工業中 焊連接的特點及發展歷程The Characteristic and Development Course of Soldering Technique in Electronic Industry1524.2軟 焊連接的基本原理Fundamental of Soldering1544.2.1軟 焊的定義Definition o

f Soldering1544.2.2 料與母材間的相互作用Interaction Between Solder and Base

電沉積法製備類鑽碳薄膜摻雜金屬之研究

為了解決金剛石 氧化 鎵的問題,作者蔡昀光 這樣論述:

類鑽碳(DLC)薄膜具有許多類似鑽石的特性,如硬度高、化學穩定性佳、及高熱傳導性等,在近年來引起相當多的研究討論,被視為極有潛力的材料之一,但由於薄膜內應力過高且與基板附著性不佳使DLC之發展應用受到限制。由許多研究發現在薄膜中摻雜金屬粒子能有效釋放應力並可增強與基板之附著性,並提出許多Me-DLC之製備方式,然而製程皆為汽相沉積,需要高真空設備且製程控制繁雜,相較於液相電沉積系統則具有相當多的優勢,例如成本低、製程簡單、且能在不規則之大面積基板上成膜。本研究嘗試以液相電沉積的方式在ITO透明導電膜上沉積非晶質銅/類鑽碳(Cu-DLC)複合薄膜,並探討工作環境對薄膜組成結構及特性影響。由I-

t圖形之末端電流觀察薄膜之阻抗變化,Cu-DLC能有效降低電子在膜內之傳輸阻抗,並由AFM觀察其表面形貌呈尖錐狀,可增強電子場發射之特性,並經由Raman分析發現,銅金屬的加入,薄膜sp2鍵結量增加,使其ID/IG比值提高趨於石墨化,而由於膜內壓應力獲得釋放,造成G-peak往低波數偏移。ESCA分析結果薄膜中沒有銅碳化合物形成,而sp2/(sp2+sp3)比值隨著溶液pH值提高而增加,並得知Cu-DLC在酸性環境條件,或以[Cu(NH3)n]2+銅氨錯離子之形式摻雜,薄膜中金屬銅含量較高,較利於銅金屬成長,並由n&k analyzer量測推導出其具有最低的光能隙值;而在文章最後,將針對薄膜之

成長機制及在電子場發射之特性應用作為探討。

寬禁帶半導體高頻及微波功率器件與電路

為了解決金剛石 氧化 鎵的問題,作者趙正平 這樣論述:

《寬禁帶半導體高頻及微波功率器件與電路》重點介紹了SiC和GaN寬禁帶半導體高頻開關和微波功率器件與電路的新進展與實用製備技術。 《寬禁帶半導體高頻及微波功率器件與電路》共5章:章介紹電力電子和固態微波器件的發展及其在雷達領域的應用;第2章介紹SiC和GaN寬禁帶半導體材料,包括SiC和GaN單晶、SiC的同質外延生長、GaN的異質外延生長;第3章介紹SiC高頻功率器件,包括SiC功率二極體、SiC MESFET、SiC MOSFET、SiC JFET、SiC BJT、SiC IGBT和SiC GTO;第4章介紹GaN微波功率器件與電路,包括GaNHEMT、GaN MMIC、E模GaN HE

MT和N極性GaN HEMT;第5章介紹正在發展中的固態新型器件,包括太赫茲器件、金剛石器件和二維材料器件。 《寬禁帶半導體高頻及微波功率器件與電路》可供從事寬禁帶半導體和雷達、通信、電子對抗以及電力電子應用等領域的科研人員參考。 趙正平   江蘇揚州人,研究員級高工,1970年畢業於清華大學無線電電子學系,1982年獲南京工學院電子工程系半導體物理與器件專業工學碩士學位。   1982年至2002年在電子工業部第十三研究所工作,歷任課題組長、研究室主任、主管科研副所長和所長,2002年後參於組建中國電子科技集團公司,歷任黨組成員兼總經理助理和黨組成員兼副總經理。現任中國

電子科技集團公司集團科技委副主任.中國航空工業集團公司外部董事,河北工業大學微電子專業博導。常期從事砷化鎵功率器件與積體電路。微米、鈉米技術和寬禁帶半導體功率器件的開創性研究。在首次突破GaAs功率器件,功率MMIC.星用固態放大器和GaNHEMT功率器件等關鍵技術,獲國家科技進步獎二、三等獎各1次,部科技進步獎一、二、三等獎8次。歷任國家“863”資訊領域專家、國防“973”首席專家和“核高基”國家重大專項專家,1993年獲得特貼專家稱號,1994年獲國家中青年專家稱號。 第1章 绪论 1.1 电力电子器件的发展 1.1.1 Si电力电子器件的发展 1.1.2 宽禁带电力

电子器件的发展 1.1.3 我国电力电子器件的发展 1.2 固态微波器件的发展 1.2.1 Si和GaAs固态微波器件与电路的发展 1.2.2 SiC固态微波器件与电路发展 1.2.3 GaN固态微波器件与电路发展 1.3 固态器件在雷达领域的应用 1.3.1 si、GaAs固态微波器件与固态有源相控阵雷达 1.3.2 SiC、GaN固态微波器件与T/R模块 1.3.3 siC、GaN高频开关功率器件与开关功率源/固态脉冲调制源 参考文献 第2章 宽禁带半导体材料 2.1 氮化镓和碳化硅晶体材料 2.1.1 GaN晶体性质和制备 2.1.2 SiC晶体性质和制备 2.2 碳化硅材料的同质外延

生长技术 2.2.1 SiC同质外延生长方法 2.2.2 SiC CVD同质外延关键技术 2.2.3 SiC外延层缺陷 2.3 氮化物材料的异质外延生长技术 2.3.1 氮化物外延生长基本模式和外延衬底的选择 2.3.2 用于氮化物异质外延的金属有机物化学气相沉积技术 2.3.3 氮化物异质外延生长中的几个重要问题 2.4 宽禁带半导体材料的表征方法 2.4.1 X射线衍射测试 2.4.2 原子力显微镜测量 2.4.3 光致发光谱测量 2.4.4 傅里叶变换红外谱厚度测试 2.4.5 汞探针C-V法测量杂质浓度分布 参考文献 第3章 碳化硅高频功率器件 3.1 SiC功率二极管 3.1.1

siC肖特基二极管 3.1.2 siC PIN二极管 3.1.3 SiC JBS二极管 3.1.4 siC二极管进展 3.1.5 siC二极管应用 3.2 SiC MESFET 3.2.1 工作原理 3.2.2 SiC MESFET研究进展 3.2.3 SiC MESFET应用 3.3 SiC MOSFET 3.3.1 工作原理 3.3.2 关键工艺 3.3.3 SiC MOSFET进展 3.3.4 SiC MOSFET应用 3.4 siC JFET 3.4.1 SiC JFET的半导体物理基础 3.4.2 横向SiC JFET 3.4.3 垂直SiC JFET 3.4.4 SiC VJFET

发展趋势及挑战 3.4.5 SiC JFET应用 3.5 SiC BJT 3.5.1 BJT基本工作原理 3.5.2 BJT基本电学特性 3.5.3 SiC BJT关键技术进展 3.5.4 siC BJT的应用 3.6 siC IBJT 3.6.1 工作原理 3.6.2 SiC IGBT进展 3.6.3 SiC IGBT应用 3.7 SiC GTO 3.7.1 晶闸管的导通过程 3.7.2 关断特性 3.7.3 频率特性 3.7.4 临界电荷 3.7.5 SiC GTO研究进展与应用 参考文献 第4章 氧化镓微波功率器件与电路 4.1 GaN HEMT 4.1.1 GaN HEMT器件工作原

理 4.1.2 GaN HEMT器件的性能表征 4.1.3 GaN HEMT器件关键技术 4.1.4 外D模HEMT器件进展 4.2 GaN MMIC 4.2.1 MMIC功率放大器电路设计 4.2.2 MMIC功率放大器电路制备的关键工艺 4.2.3 外GaN MMIC研究进展 4.2.4 GaN MMIC应用 4.3 E模GaN HEMT 4.3.1 E模器件基本原理 4.3.2 外E模GaN HEMT器件进展 4.3.3 E模GaN器件应用 4.4 N极性GaN HEMT 4.4.1 N极性GaN HEMT原理 4.4.2 N极性GaN材料生长 4.4.3 外N极性面GaN器件进展 4.

5 GaN功率开关器件与微功率变换 4.5.1 GaN功率开关器件工作原理 4.5.2 外GaN功率开关器件进展 4.5.3 外GaN功率开关器件应用 4.5.4 GaN开关功率管应用与微功率变换 参考文献 第5章 展望 5.1 固态太赫兹器件 5.1.1 太赫兹肖特基二极管 5.1.2 太赫兹三极管 5.1.3 氮化物太赫兹固态器件 5.1.4 太赫兹固态器件总结与展望 5.2 金刚石器件 5.2.1 金刚石材料基本性质 5.2.2 金刚石材料生长方法 5.2.3 金刚石器件举例 5.2.4 总结与展望 5.3 二维材料器件 5.3.1 石墨烯材料器件 5.3.2 其他二维材料器件 5.3

.3 二维材料器件制备工艺 5.3.4 总结与展望 参考文献 主要符号表 缩略语